Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics - A Practical Approach to High Power and Single Mode Devices
半导体激光工程、可靠性和诊断：大功率和单模设备之实用方法
光电子学与激光技术售 价：
￥
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作 者
出 版 社
出版时间
2013年02月22日
装 帧
精装
页 码
522
语 种
英文
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图书简介
This reference book provides a fully integrated novel approach to the development of high-power, single-transverse mode, edge-emitting diode lasers by addressing the complementary topics of device engineering, reliability engineering and device diagnostic
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