Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

使用偏振光的纳米尺度缺陷检测
物理学史

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发货周期：预计3-5周发货

作者

Pierre Richard Dahoo

出版社

Wiley-ISTE

出版时间

2016年08月15日

装帧

精装

ＩＳＢＮ

9781848219366

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316

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This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

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