SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY OF NANOMATERIALS:BASICS OF IMAGING AND ANALYSIS

扫描透射电子显微镜:基础,纳米材料的发展现状与展望

材料科学基础学科

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作      者
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出版时间
2014年08月21日
装      帧
精装
ISBN
9781848167896
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616
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图书简介
The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration correction, monochromator, high-sensitivity electron energy loss spectroscopy and the software of image mapping.
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