Electromigration and Electronic Device Degradation

Electromigration and Electronic Device Degradation
电子技术

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发货周期：预计3-5周发货

作者

Aris Christou

出版社

Wiley-Interscience

出版时间

1993年12月15日

装帧

精装

ＩＳＢＮ

9780471584896

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343

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This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.

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