Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy:Theory, Techniques, and Applications, Second Edition

仪器仪表技术

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2511.00
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作      者
出  版 社
出版时间
2000年11月21日
装      帧
精装
ISBN
9780471248248
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页      码
512
语      种
英文
版      次
2nd ed.
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图书简介
Scanning tunneling microscopy (STM) provides 3-dimensional, real-space images of surfaces at high resolution. In the 15 years since its invention, the technique has become widely used as a characterization tool in materials science, semiconductor physics, biology, electrochemistry, and surface science.
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